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控制卡

PCIe-PXIe-1041远程卡套件是为研发、测试工程师打造的高带宽、可扩展的系统控制模块，套件包含PXIe-1041远程卡、PCIe-1041和PCIe x4外部连接线将计算机系统与PXIe机箱连接形成完成的PXIe测试系统，可在各种应用场景中出色的展现其可靠性高、通用性和实用性强等特点。远程卡套件符合 PXI-5 PXI Express 硬件规范及PXI-6 PXI Express 软件规范，同时兼容国内外主流PXIe供应商生产的机箱及模块，可满足企业研发、测试和生产的需求。

稳定光源

PSS AOS10800 是一款 8 通道稳定光源，各通道能够独立输出稳定的光源，该设备内部集成 TEC 温控电路、功率反馈电路，出光功率稳定性高，适用于光器件耦合与测试。

PXIe LCR数字电桥

PXIe LCR数字电桥

PSS PXIe-5302是一款基于PXIe接口的高性能数字电桥，主要用于无源、光电子、半导体等器件或材料的电感值(L)、电容量(C)以及直流电阻(R)的测量。本产品支持标准SCPI指令集，支持标准PXIe机箱，可快速集成到PXIe测试系统中，提高系统测试效率。

PXIe LCR数字电桥

PXIe LCR数字电桥

PSS PXIe-5302A是一款基于PXIe接口的高性能数字电桥，主要用于无源、光电子、半导体等器件或材料的电感值(L)、电容量(C)以及直流电阻(R)的测量。本产品支持标准SCPI指令集，支持标准PXIe机箱，可快速集成到PXIe测试系统中，提高系统测试效率。

多模光衰减器

多模光衰减器

PSS DOA34042/DOA24082是一款可程控的4/8通道850nm多模光衰减器设备，具有低插入损耗，高衰减精度和重复性等特点；另外光出端集成有高精度光功率计，可实时检测输出光功率；通信接口除了RS232还可以支持LAN或GPIB接口。设备可用于400G/800G等高速光模块的4/8路并行测试，以及光纤通信、光纤CATV等领域的各种集成测试，满足客户不同应用需求

矩阵开关

PXIe-7151 矩阵开关，128节点矩阵支持软件可配置1个8x16矩阵或2个8x8矩阵，低接触阻抗和高绝缘阻抗适用于高精度测试场景，集成自检模块快速定位异常开关，配合测试仪器使用有效提高测试效率。PXIe-7151矩阵开关符合 PXI-5 PXI Express 硬件规范、PXI-6 PXI Express 软件规范，同时兼容国内外主流供应商生产的PXIe机箱，可满足企业研发、测试和生产的需求。

多功能IO卡

PXIe-4431 多功能IO卡，支持16通道16bit、每通道2M采样率同步采集通道，4通道16bit、每通道3.3M采样率同步输出通道、48个数字输入输出通道和4个计数器，灵活运用于客户各种输入输出应用场景。PXIe-4431多功能IO符合 PXI-5 PXI Express 硬件规范、PXI-6 PXI Express 软件规范，同时兼容国内外主流板卡供应商生产的PXIe机箱，可满足企业研发、测试和生产的需求。

数据通信COC测试机

数据通信COC测试机

PSS COCT2000支持COC器件（支持DFB/EML/Tunable）常温和高温下的LIV综合测试和光谱测试。与我司COC老化系统配套使用，顺利获得老化前后测试对比，筛选出不良产品。本机具有高集成度、高效率、高稳定性的特点。

数据通信TO三温测试机

数据通信TO三温测试机

PSS TO三温测试系统支持TO工业级低温、常温、高温测试，温度控制范围为-40℃～85℃，适用于VCSEL/FP/DFB-TOCAN的自动测试，支持器件任意引脚封装测试，支持LIV特性测试以及光谱测试。系统一次支持两块夹具进行测试，每块夹具可装载128颗TO，提高测试产量，系统具有温控快，温度均匀性好，稳定可靠，测试效率高的特点。

数据通信TO46盘测机

数据通信TO46盘测机

为了提高光器件的可靠性，光器件在TO封装前会经过性能测试，避免不良器件流入下一个生产环节而带来人力、物力损失。武汉k8com官网TO-46自动测试系统主要用来自动测试64颗器件的击穿电压、暗电流、工作电流、响应度、D+/D-等性能特性，具有高集成度、高速、高稳定性的特点。

数据通信TO56/EML TO盘测机

数据通信TO56/EML TO盘测机

PSS TO56自动盘测系统，适用于VCSEL/FP/DFB/DML/EML/SOA-EML-TOCAN的自动测试，采用一块测试板测试64颗4PIN/5PIN FP/DFB TO或32颗7PIN/8PIN DML/EML TO，支持任意引脚封装测试，支持高温测试、TEC温控、LIV特性测试以及光谱测试。该系统和我司老化箱配套使用，提高工厂生产、测试效率，具有高集成度、高速、高稳定性的特点。

激光雷达VCSEL COB测试机

激光雷达VCSEL COB测试机

k8com官网窄脉冲集成式可靠性系统与性能测试系统用于激光雷达10ns窄脉冲可靠性与激光雷达SMD封装器件的性能测试。可靠性系统的每个老化板可独独立设定老化电流电压参数，老化箱带自锁功能，防止老化过程中误操作，老化板实时温度检测，支持本地Access保存或SQL服务器保存数据。

激光雷达TO测试机

激光雷达TO测试机

k8com官网窄脉冲TO测工装针对激光雷达高功率脉冲型封装器件的测试。体积小，集成度高。适合于研发等小批量测试验证环境。

可见光TO盘测机

可见光TO盘测机

k8com官网可见光TO自动盘测机，能实现TO56自动LIV综合测试、光谱测试，支持TO56任意引脚封装测试，采用一块测试板测试64颗TO56，具有高集成度、高速、高稳定性的特点。该系统和我司集成式老化箱配套形成一套完整的可见光TO可靠性实验解决方案、老化板可兼容分拣设备使用，提高工厂生产、测试效率。

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