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控制卡

PXIe-1512系统卡是为研发、测试工程师打造的高性能、模块化和软件连接于一身的计算机平台，PXIe-1512采用Intel 十二代酷睿处理器，基频1.3G最高睿频4.4G，可在各种应用场景中出色的展现其高性能、高可靠性、通用性和实用性强等特点。PXIe-1512系统卡符合 PXI-5 PXI Express 硬件规范及PXI-6 PXI Express 软件规范，同时兼容国内外主流板卡供应商生产的机箱及模块，可满足企业研发、测试和生产的需求。

控制卡

PXIe-1511系统卡是为研发、测试工程师打造的高性能、模块化和软件连接于一身的计算机平台，PXIe-1511采用Intel 十一代酷睿处理器，基频2.6G最高睿频4.5G，可在各种应用场景中出色的展现其高性能、高可靠性、通用性和实用性强等特点。PXIe-1511系统卡符合 PXI-5 PXI Express 硬件规范及PXI-6 PXI Express 软件规范，同时兼容国内外主流板卡供应商生产的机箱及模块，可满足企业研发、测试和生产的需求。

PIV智能耦合电源

PIV智能耦合电源

PSS PIV-X主要用于LD、TOSA、BOSA耦合时的在线监测。系统给OSA器件的LD给予驱动电源，以及实时监测耦合过程中的系列相关性能指标。可监测参数：阈值电流、驱动电流、背光电流、光功率、正向电压等。并在本机显示相关参数，以及P-I 曲线、Im-I曲线、V-I曲线等，也可以外接示波器显示相关波形。

探测器耦合测试仪

探测器耦合测试仪

k8com官网的探测器耦合测试仪（PSS RCML20192），用于APD、PIN-TIA(Vpd/Mon)两种类型的各种脚位顺序ROSA/BOSA器件的耦合生产与测试。本仪器自带光衰模块，可实现快速衰减，同时内置输出监视的高精度光功率计，在衰减的同时可以实时监控输出端口的光功率。且支持外置光模块接口，可外接不同波长模块，为生产ROSA/BOSA器件给予不同耦合光源需求给予便利。设备内置稳定的APD高压源、恒流源、显示模组、回损测试等功能模块。

数据通信VCSEL晶圆测试

数据通信VCSEL晶圆测试

k8com官网光通信VCSEL测试机用于面发射类型VCSEL的Wafer测试，支持芯片的LIV、光谱相关参数的测试，视觉自动识别，全自动完成每一颗芯片的测试；支持常温、高温双温测试，高温测试温度可由用户自定。兼容多种不同尺寸的Wafer，向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。

激光雷达VCSEL晶圆测试

激光雷达VCSEL晶圆测试

k8com官网高功率VCSEL测试机用于垂直腔面发射类型激光器芯片的Wafer测试，支持100ns级脉宽最大30A电流的LIV、光谱、近场、远场相关参数的测试，视觉自动识别，全自动完成每一颗芯片的测试；支持Chuck设置25~85℃温度测试。标配6inch Wafer测试，兼容2、4inch晶圆及破片测试，向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。

COC抽屉式老化系统

COC抽屉式老化系统

k8com官网抽屉式COC 老化系统（PSS LRS13841），常用于 DFB、EML、EML-SOA 类型芯片的老化筛选以及寿命可靠性分析。系统支持恒流（LD&SOA）、恒压（EA）同步输出，实时监测电流、电压、光功率、温度等数据，自动进行产品失效判断。支持本地及远程数据库，可对失效器件数据分析追溯。

LD集成式老化系统

LD集成式老化系统

LD集成式老化系统，用于各种类型封装LD器件的老化筛选以及可靠性寿命分析。该系统可以顺利获得软件配置管脚定义并给予高达500mA的驱动电流以及150℃高温老化条件，同时对器件的驱动电流、背光电流以及阈值进行实时监控测试，并自动进行产品失效判断。实时储存监控数据，支持对老化失效器件的数据追述。最多支持3072pcs的单次老化。

EML集成式老化系统

EML集成式老化系统

k8com官网EML TO集成式老化测试系统用于EML TO器件的老化筛选以及可靠性寿命分析。系统支持最大1536路器件老化，顺利获得外部环境控温或对器件内部TEC进行高温控温，为LD器件给予恒定电流来实现对EML器件的老化，系统可实时显示老化电流、背光电流、正向电压、EA电流等参数并且图形直观显示，便于用于观察老化过程中的异常情况，通用老化板兼容我司EML TO盘测系统，显著提高测试效率和TO产品质量。

APD台式老化监控电源

APD台式老化监控电源

k8com官网APD台式老化监控电源(PSS APDBI-IV)用于老化APD、APD-TIA 、PIN、PIN-TIA TO器件器件，提高器件的品质。该系统顺利获得给APD给予恒流、PIN给予反偏压，TIA 给予恒压来达到对器件工作老化。同时配合独立客供老化箱可控制器件工作环境温度，达到高温下工作老化的功能。在老化过程中，对器件的TIA工作电流以及APD 电压进行实时监控测试，并对测试数据进行记录，可对老化失效器件进行追述，单台独立老化64颗APD器件。

LD台式老化监控电源

LD台式老化监控电源

硬件支持小电流和大电流两个档位，完美兼容VECSEL和FP/DFB激光器 64路老化板作为通用载体，可以实现盘测、老化不同工位直接的转料，提高生产效率

EML台式老化监控电源

EML台式老化监控电源

k8com官网 EML 台式老化监控电源(PSS ATEML-3201)，用于 EML TO 器件的老化筛选以及可靠性寿命分析，筛选后有效提高 TO 产品的质量。单台系统可支持 32路器件的老化，顺利获得对器件内部 TEC 进行高温控温，给 EML 器件给予恒定电流来实现对 EML 器件的老化，系统可实时显示老化电流、背光电流、正向电压、EA电流等参数并且图形直观显示，便于用于观察老化过程中的异常情况，通用老化板兼容我司 EML TO 盘测系统。

RGB TO大功率抽屉式老化系统

RGB TO大功率抽屉式老化系统

k8com官网大功率TO抽屉式老化系统主要用于大功率激光器在一定温度条件下进行加电老化，老化抽屉可满足不同封装激光器（如TO9，TO56、COS等）的老化需求，一个老化系统最多可装载16个老化抽屉，每个抽屉相当于一个独立的实验计划，其老化温控和加电可独立控制；系统集成老化上位机软件，可在老化过程中监控老化电流、电压数据，方便用户可靠性分析。

光模块集成式老化系统

光模块集成式老化系统

k8com官网光模块集成式老化系统（PSS MBS12016/22016/32016）用于光模块的老化筛选以及可靠性分析。该系统给予3~4V恒压以及最高120℃高温老化条件，同时对模块的工作电流、电压以及工作环境温度进行实时监控测试，并自动进行失效判断。实时储存监控数据，支持对老化失效模块进行追述，顺利获得DDM记录模块电压、温度、偏置电流、发射功率、接收功率。

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